基于MSA的TDR特性阻抗测试仪性能分析
文章介绍一种国际上公认的时域反射技术在PCB高频阻抗检测中的应用，该技术最初是在美国Tektronix公司、英国Polar公司中发展起来的，一段时间内垄断了国内PCB阻抗检测领域。作为国内首家研发的产品，使用者对国产特性阻抗仪的性能是否达到测量的要求，仍然有些质疑。因此，通过MSA测量系统分析技术对TDR阻抗测试仪的五种(偏倚性、线性、稳定性、重复性和现现性)性能进行分析，对该测量系统的性能特征进行评价，表明该仪器完全可以同国外同类产品相比美。
TDR阻抗测试仪 时域反射技术 MSA
刘金凤 邓世文
广东正业科技股份有限公司
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480-488
2012-11-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）