圆形阵列法在能谱测量中的应用

摘要：

　　在高能闪光照相技术中，高能X 射线的能谱测量一直是一个难点。在以往研究方法的基础上，指出控制散射的影响程度是提高能谱测量精度的关键。提出采用圆形阵列法对X 射线能谱进行测量，并针对一特定能谱的X 射线设计了测量装置，蒙特卡洛模拟结果表明，可以将散射的影响控制在4％以内，这对提高能谱测量精度具有十分重要的意义。

关键词： 高能X射线 能谱测量 圆形阵列法 蒙特卡洛模拟

作者: 陈楠 戴曼 高峰 张卓 章林文

作者单位: 中国工程物理研究院 流体物理研究所,四川绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届高功率粒子束暨第八届全国高压加速器学术交流会

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 573-576

在线出版日期: 2012-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）