强流脉冲离子束流横截面分布离线诊断方法探索

摘要：

　　离子束流横截面分布信息的获得对于特种脉冲中子源的研究具有重要的意义。评述了几种通常的束流横截面分布诊断技术和方法，对比强流脉冲离子束的特点，分析了各种方法的优缺点。提出了一种新颖的离线诊断方法，其具有分辨率高，可同时给出束流横截面强度分布和离子成分信息的特点。利用数值模拟方法对该诊断方法的可行性进行了分析和讨论。

关键词： 强流脉冲离子 束流横截面 单晶硅 二次离子质谱(SIMS)

作者: 杨振 龙继东 彭宇飞 王小胡 魏涛 蓝朝晖 董攀 王韬 石金水

作者单位: 中国工程物理研究院 流体物理研究所,四川 绵阳 621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届高功率粒子束暨第八届全国高压加速器学术交流会

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 615-618

在线出版日期: 2012-08-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）