光学相干层析成像深度特性及折射率测量
光学相干层析成像技术作为一种全新的光学断层成像技术,主要利用干涉原理来实现对样品的非破坏、高分辨率的分层成像,根据是否进行深度方向上的扫描可以将其分为时域OCT和频域OCT.在测量样品一定时,对于系统本身,光栅的分光能力越强,CCD的分辨率越高,光源的相干长度越长,频域OCT系统探测的最大深度越深.用相移法标定出频域OCT采集到层析图像的深度单位,由此得到层析图像的分层深度值,并可换算得到层析图像上样品的光程厚度.对于厚度确定的实际样品,可计算得到样品的折射率.在本文中按此方法对载玻片和盖玻片的折射率进行了测量,得到结果在误差范围内,证明此方法测量物体折射率可行.
光学相干层析成像 频域OCT 成像深度 测量折射率
黄昊翀 江竹青 蔡文苑 王羽佳 满天龙 王云新
北京工业大学应用数理学院,北京 100124;北京工业大学微纳信息光子技术研究所,北京 100124
国内会议
四川雅安
中文
1-9
2012-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）