虚条纹相移算法在结构光三维测量中的应用
相移法测量三维轮廓具有计算简单、高效等优点,然而应用此方法至少需要三幅以上图像,且实际操作中很难获取绝对的相移量而给测量带来误差。本文提出的虚条纹相移法,只需要采集一副图像,测量其基频值fr,然后通过计算机生成频率为fr且具有π相位差的两虚条纹图像,分别与采集的图像进行混叠。应用高通滤波器及相移算法可恢复原始物体的三维轮廓。这样处理的好处既保持了相移法的优点又解决了其需要采集多幅图像以及无法实现绝对相移的问题。而且高通滤波对细节上能够很好地保留原始形态,能够真实反映物体的粗糙度状况。
三维轮廓测量 投影条纹 相移法 虚条纹
朱荣刚 王小锋 李建欣 朱日宏
南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏 南京 210094
国内会议
南京
中文
286-289
2012-06-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）