电子断层成像在聚合物材料研究中的应用

摘要：

多相或多组分的聚合物材料,纳米尺度的微结构决定了材料的力学性能和其他各种功能.传统上对于微结构的表征,一般是基于二维投影的透射电子显微镜、扫描电镜照片,或者基于电化学、流变学、吸附、散射/衍射方法的间接表征方法.本文详细介绍了电镜实验技术和计算机技术的重大进步，使得电子断层成像(Electron Tomography)技术成为表征聚合物材料中的纳米结构的理想方法。同时通过三个研究实例介绍了该技术在几类聚合物材料研究中的应用。

关键词： 聚合物材料 电子断层成像 纳米结构 力学性能

作者: 洪崧 Hiroshi Jinnai

作者单位: 北京化工大学分析测试中心,北京100029;Institute for Materials Chemistry and Engineering, Kyushu University, Fukuoka Institute for Materials Chemistry and Engineering, Kyushu University, Fukuoka 819-0385, Japan

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013年度北京市电子显微学研讨会暨第九届全国实验室科学管理交流会

会议地点: 云南腾冲

会议语种:中文

页码: 1-2

在线出版日期: 2013-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）