沉淀富集薄膜源-X射线荧光法分析铀的方法研究
研究用X射线荧光法测量微量U的可行性。通过采用Fe-DDTC共沉淀富集法,结合薄膜源制样技术和提高X射线荧光仪的灵敏度等措施,提高方法灵敏度。研究得出主要结论:U的检出限为0.04μg/mL,比常规的溶液法X射线荧光分析的检出限降低约一个数量级,达到了实验预期目标,为“分离-X射线荧光测量微量撑的分析技术研究”奠定了基础。
核工业 铀元素 沉淀富集薄膜源 X射线荧光法 检测灵敏度
刘桂娇 宋游 郑维明
中国原子能科学研究院
国内会议
成都
中文
72-73
2012-10-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)