低温等离子体探针元素质谱成像分析
利用毛细管放电产生的低温等离子体探针代替激光，提出了新的表面元素信息获取的方法，实现了固体表面样品的直接分析，获得了样品表面微区和纵深方向的元素分布信息。这种探针剥蚀痕迹的直径只有10μm左右，可提供比激光刻蚀更好的分辨率，而且装置非常简单，有可能发展成为一种新的元素成像分析的方法。本文用低温等离子体探针实现了陶瓷表面的元素成像分析，成功获取了陶瓷表面图案中不同元素的分布信息。该工作还进一步拓展到生物组织样品表面的元素成像分析，实现了对鼠脑切片中的Na, Ca,I和Hg元素进行成像。该方法的优点是放电均匀稳定、不需要真空、装置简单、无需待分析对象导电甚至无需与电极接触等。该工作在生命科学领域的意义在于可直接获取特定元素在生物组织甚至细胞中的分布状况，从而为研究生命体系中微量元素的作用提供手段。
化学分析 低温等离子体探针 质谱成像 元素分布
张四纯 邢志 张新荣
清华大学化学系,北京,100084
国内会议
成都
中文
41-41
2012-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）