两种电制冷能谱在不同计数率下谱峰漂移对定量结果的影响

摘要：

本文对两种不同的电制冷能谱(SDD)在不同计数率下的谱峰稳定性和对定量分析结果的准确性进行了研究,结果表明集成了场效应管(FET)的SDD存在明显的谱峰漂移,定量分析的结果的变化范围也远远超出了能谱分析误差的国际标准.而FET与SDD独立的能谱系统没有探测到谱峰漂移,定量分析结果的变化范围在能谱分析误差的国际标准规定以内.在使用集成了FET的SDD能谱系统时,要尽量在较低的计数率下工作才能获得较好的定量数据.

关键词： 电制冷能谱 计数率 谱峰漂移 定量分析

作者: 焦汇胜 孟丽君 吴秀华

作者单位: 牛津仪器(上海)有限公司,中国上海,201102 昱辉阳光能源有限公司,中国浙江,314117

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七次华北五省市电子显微学研讨会及第九届全国实验室协作服务交流会

会议地点: 江西吉安

会议语种:中文

页码: 26-34

在线出版日期: 2012-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）