PCB AOI检测中微小缺陷成像分析与检测

摘要：

自动光学检测(AOI)已成为PCB检测的主要方式,线路板微小缺陷检测对于AOI系统是严峻的挑战.研究线路板微小缺陷的成像问题.运用成像理论,研究了欠采样条件下微小缺陷的成像特点,分析了缺陷尺寸与像素分辨率的比例及采样相位对成像的影响,并进行了实验验证.该研究对PCB AOI系统的设计和检测性能分析有重要意义。

关键词： 印刷电路板 自动光学检测 缺陷分析 分辨率

作者: 邹美芳 金刚

作者单位: 北京凌云光视数字图像技术有限公司,北京100195

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013春季国际PCB技术/信息论坛

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 18-20

在线出版日期: 2013-03-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）