一种OTP存储器冗余测试电路的设计与实现

摘要：

设计了一种应用于一次可编程(OTP)存储器的冗余测试电路.该电路通过对存储器内的冗余阵列进行正确的寻址,进而检测该存储器能否进行正常的数据存储及读取.该电路以D触发器为基础,采用控制信号及地址信号复用的方式,结构简单,功耗低,且具有较强的可控制性和可观测性.仿真结果及对OTP存储器的实物测试表明其实现了预期的功能,验证了该电路的可行性.

关键词： 一次可编程存储器 冗余测试电路 结构设计 信号复用 仿真分析

作者: 何亚璠 周庆 李平

作者单位: 电子科技大学微电子与固体电子学院 四川成都610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 194-197

在线出版日期: 2012-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）