FPGA中IOB与CLB的故障检测的研究
随着集成电路产业和IC技术的发展,为满足电路的方便灵活的设计需要,现场可编程门阵列应运而生.如今FPGA器件已在数字领域的广泛应用,用户对它的准确性和可靠性要求也更高.所以,对于FPGA器件的故障测试和诊断的研究对科研和工程实践都具有重要意义。本文基于Xilinx公司的XC4010E为研究对象,就FPGA故障检测进行了研究.充分利用EDA工具,和相关硬件测试平台完成了FPGA测试中“配置—下载—测试—分析”的故障诊断步骤.
专用集成电路 现场可编程门阵列 故障检测 输入输出模块
马力 张学昕 陈瑶
电子科技大学 成都市建设北路二段四号 610054
国内会议
成都
中文
215-219
2012-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）