面向模拟IC测试的数字化仪的误差分析与校正

摘要：

分析了应面向模拟IC测试的数字化仪的误差的形成原因,通过理论计算得出误差的数学模型,并给出一种硬件和算法协同补偿法校正误差的方法.通过仿真测试表明该误差校正方法对数字化仪系统误差有很好的抑制作用,有效的提高了系统的精度.

关键词： 集成电路 模拟测试系统 数字化仪 误差校正 仿真分析

作者: 邓李兴 杨荣 张斌

作者单位: 电子科技大学微电子与固体电子学院,四川成都610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 240-245

在线出版日期: 2012-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）