浅谈随机存储器的单粒子翻转机理

摘要：

该文从存贮器的单元电路及其工作过程出发，论述了随机存储器单粒子翻转(SEU) 的机理，讨论了增加芯片密度对SEU的影响，并引出了高密芯片的单位面积SEU率要比低密芯片小的结论，最后给出了芯片加固的一般思路。

关键词： 翻转截面 PN结 沉积电荷

作者: 隋厚堂

作者单位: 中国科学院空间科学与应用研究中心(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国空间科学学会空间探测专业委员会第十二次学术会议

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 163～166

在线出版日期: 1999-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）