高光萃取效率之LED晶片陣列微透鏡光學設計與優化
本研究主要是建立LED晶片光萃取效率(LED extraction efficiency,以下简称LEE)之光学模型,为在LED晶片上设计基板侧透切角、基板上方第一层阵列微透镜和LED晶片表面上方第二层阵列微透镜.设计的参数为基板斜切面角度、第一层阵列微透镜四面角锥的顶角半角和阵列周期、第二层阵列微透镜四面角锥的顶角半角和阵列周期.本研究使用蒙地卡罗光线追迹法分析LED晶片在不同设计参数下的LEE,并利用田口方法推得最佳LEE的参数设计.实验结果为基板侧边切角度为(70□)、第一层阵列微透镜四面角锥的顶角半角40□、阵列周期4μm、不加第二层阵列微透镜会有最佳的LEE,比不加任何结构的裸晶LED提升2.96倍.封装后,相较于未加结构之封装LED提升1.45倍.
发光二极管 光萃取率 阵列微透镜 光学设计
陳盈運 張榮森
中央大學 光電科學與工程研究所(R.O.C)
国内会议
长沙
中文
491-498
2012-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）