基于FPGA和ARM的焊缝缺陷检测设备设计

摘要：

　　X射线无损探伤是工业中无损检测的主要方法之一。采用数字技术辅助检测可以大幅降低检测成本，提高检测速度和效率，提高产品质量。以实际工程需求为背景研究了X射线实时成像的缺陷检测与识别技术，设计了1个X射线焊缝缺陷实时检测系统。利用X射线传感器采集焊缝图像，用图像处理算法检测焊接缺陷。为实现焊缝缺陷的实时检测，利用FPGA的并行能力以及运算速度快的特点，设计了基于FPGA的缺陷图像预处理方案，按照设计的UDP封装格式封装图像数据，通过以太网接口将封装数据发送至上位机进行焊缝图像重建和缺陷检测。此设计方案减轻上位机的数据处理量，减轻了上位机的处理压力，提高了焊缝缺陷检测设备的检测速度。

关键词： 焊缝缺陷 现场可编程门阵列 检测系统 图像处理

作者: Ni Hairi 倪海日 Liu Li 刘立

作者单位: College of Electronic and Information Engineering,Tianjin University,Tianjin 300072 天津大学电子信息工程学院 天津 300072

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年三网融合技术国际研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 80-82

在线出版日期: 2012-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）