一种存储器自修复机制的实现

摘要：

　　嵌入式存储体目前已经广泛用于芯片设计,对于很多芯片而言,片上存储体是影响芯片成品率的主要因素,在某芯片内集成了大量的定制存储体D_MM,本文采用内建自修复和存储体冗余技术实现对该存储体的在线测试与修复,两者紧密结合满足了很高的设计频率指标要求,并且能够对MBISR电路进行有效的功耗控制。

关键词： 存储体 自修复机制 冗余技术 低功耗设计

作者: SHI Jing-Jing 施晶晶 XU Yong 许勇 REN Xiu-Jiang 任秀江 CHEN Yan-Tin 陈彦庭

作者单位: Jiang Nan Institute of Computing Technology, Wuxi 214083, China 江南计算技术研究所,江苏无锡 214083

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012全国高性能计算学术年会

会议地点: 张家界

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2012-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）