高Q腔法与准光腔法用于毫米波段室温介电性能测试比对研究

摘要：

　　介绍了用于毫米波段的介电性能测试的高Q腔法和准光腔法的原理及物理模型，并分别对其进行了仿真分析，建立了相应的测试装置，进行了空腔和石英玻璃的测试。结果表明，准光腔法要比高Q腔法在品质因数、可分辨的频点、样品尺寸、测试精度等方面更有优势。

关键词： 毫米波段 介电性能 高Q腔法 准光腔法 比较分析

作者: Chen Conghui 陈聪慧 He Fengmei 何凤梅 Li En 李恩 Yang Jingxing 杨景兴

作者单位: Science and Technology on Advanced Functional Composites Laboratory, Aerospace Research Institute of 航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076 University of Electionic Science and Technology,Chengdu 610054 电子科技大学,成都610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年先进功能复合材料技术重点实验室暨中国航天第十三专业信息网2012年度学术交流会

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 99-101

在线出版日期: 2012-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）