GD08-003面阵CMOS图像传感器性能测试及图像处理研究
以高性能面阵CMOS图像传感器LUPA4000作为研究目标,对其缺陷像元、光响应非均匀性、信噪比等性能指标进行测试。根据测试结果决定采用暗背景扣除、缺陷像元替换、非均匀校正三种方法进行处理。对每种方法单独处理和各种方法组合处理的处理效果从图像信噪比和成像图像质量两方面进行分析评估,结果表明非均匀校正联合缺陷像元替换的处理方法处理效果最佳。
CMOS图像传感器 性能测试 图像处理 信噪比
董建婷 董杰 杨小乐
北京空间机电研究所,北京 100076
国内会议
北京
中文
234-234
2012-06-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)