GD08-003面阵CMOS图像传感器性能测试及图像处理研究

摘要：

　　以高性能面阵CMOS图像传感器LUPA4000作为研究目标，对其缺陷像元、光响应非均匀性、信噪比等性能指标进行测试。根据测试结果决定采用暗背景扣除、缺陷像元替换、非均匀校正三种方法进行处理。对每种方法单独处理和各种方法组合处理的处理效果从图像信噪比和成像图像质量两方面进行分析评估，结果表明非均匀校正联合缺陷像元替换的处理方法处理效果最佳。

关键词： CMOS图像传感器 性能测试 图像处理 信噪比

作者: 董建婷 董杰 杨小乐

作者单位: 北京空间机电研究所,北京 100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 第10届全国光电技术学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 234-234

在线出版日期: 2012-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）