GD09-055焦平面热成像系统离散采样性能评价方法的研究

摘要：

　　在充分研究焦平面热成像系统欠采样成因的基础上,分析了ANN法和基于信息理论的光电成像系统欠采样混频评价方法,把欠采样混频看作是系统的噪声,并和其他系统噪声一起加到MRTD模型中,给出了包含欠采样噪声的MRTD模型。对比含欠采样噪声的MRTD模型仿真数据与文献中实测MRTD数据,该模型对MRTD仿真结果与测量数据走势基本一致,能够用于评价欠采样混频对热成像系统性能的影响,但模型的精确性还需要进一步修正。下一步将通过测量各种型号焦平面热像仪的M RTD,对含欠采样混频的MRTD模型进行修正。

关键词： 焦平面热成像系统 欠采样修正MRTD模型 欠采样噪声 性能评价

作者: 崔建平 王吉晖 金伟其 白廷柱 高稚允

作者单位: 北京理工大学光电学院,光电成像技术与系统教育部重点实验室,北京 100081

会议类型: 国内会议

会议名称: 第10届全国光电技术学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 259-259

在线出版日期: 2012-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）