半导体器件寿命计算

摘要：

　　该文简要介绍通过半导体器件的环境试验计算器件寿命。首先介绍了4种加速模型，以及各模型的应用；其次，根据给定的置信度水平以及试验结果查x2分布表；而后，根据试验时间和样本量求得失效率；最后，根据电子元器件服从指数分布的假设条件，求得器件的寿命。

关键词： 半导体器件 寿命计算 失效率 环境试验 阿伦纽斯模型

作者: CAI Ling-fang 蔡玲芳

作者单位: No.36 Research Institute of CETC, Jiaxing Zhejiang 314033, China 中国电子科技集团公司第三十六研究所,浙江嘉兴314033

会议类型: 国内会议

会议名称: 浙江省电子学会2012学术年会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 132-134

在线出版日期: 2012-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）