基于工业CT的电子元器件多余物检测方法

摘要：

　　针对电子元器件多余物检测，本文提出一种基于工业CT图像的自适应控制核检测方法。该方法对标准电子元器件和待检测电子元器件的CT图像进行分析，分别计算标准件与待检测件的CT图像的自适应控制核，然后通过判别自适应控制核的相似性来判定待检测电子元器件中是否存在多余物。本文对电容进行多余物检测实验，实验结果证明该方法能够有效检测出电子元器件的多余物，并且对噪声不敏感。

关键词： 电子元器件 多余物检测 工业计算机断层成像技术 自适应控制核

作者: PENG Yong 彭勇 WEI Dong-bo 魏东波 GUO Miao 郭苗

作者单位: School of Mechanical Engineering and Automation, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, 北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京 100191

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012全国射线数字成像与CT新技术研讨会

会议地点: 绵阳

会议语种:中文

页码: 27-32

在线出版日期: 2012-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）