分子印迹纳米粒电色谱法手性分离佐匹克隆的研究
以右旋佐匹克隆(d-ZOP)为模板印迹的液晶基质分子印迹聚合物(MIP)对外消旋佐匹克隆进行手型拆分,用毛细管电色谱(CEC)表征MIP颗粒对外消旋佐匹克隆的分离性能.在最佳毛细管电色谱条件下,外消旋佐匹克隆能达到基线分离,分离度Rs达到5.60,d-ZOP的柱效达到15800,分离因子α达到1.20.结果表明该MIP颗粒对外消旋佐匹克隆具有较好的手型拆分能力.
佐匹克隆 手性拆分 分子印迹纳米粒 毛细管电色谱
刘晓 宗海燕 黄艳萍 刘照胜
天津市临床药物关键技术重点实验室,天津医科大学药学院,天津 300070
国内会议
青岛
中文
874-877
2012-09-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)