二氧化硅比表面积标准物质的合成研究
本文首先采用种子生长法批量合成了三种粒径单分散SiO2颗粒,其中粒径为300nm,500nm,1000nmSiO2颗粒的透射电镜(TEM)照片分别如图1, 2和3所示；其次是对SiO2颗粒进行高温灼烧封孔使其表面无孔；再次是对封孔效果的表征，并对高温灼烧封孔后的SiO2颗粒的粒径、密度进行测定；最后是进行比表面积的计算和测定。实验研究表明，颗粒表面的粗糙度对最终样品比表面积的影响有可能是理论计算值与测量值产生偏差的主要原因。
二氧化硅 比表面积 种子生长法 合成工艺
张以梅 周倩 陈胜利 董鹏 袁桂梅
中国石油大学重质油国家重点实验室,北京102200
国内会议
西安
中文
466-467
2008-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）