Measurement of mechanical and electrical coupling properties of individual semiconductor nanowires

作者: ZHENG Kun SHAO Rui-wen WANG Jiang-jing HAN Xiao-dong ZHANG Ze

作者单位: Institute of Microstructure and Properties of Advanced Materials,Beijing University of Technology,Be Institute of Microstructure and Properties of Advanced Materials,Beijing University of Technology,Be

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国电子显微学学术会议

会议地点: 成都

会议语种:英文

页码: 4-4

在线出版日期: 2012-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）