硅纳米线横截面的电子显微表征

摘要：

　　本文用热蒸发Si0粉末的方法制备出了四种不同方向的硅纳米线，利用透射电镜对硅纳米线的横截面进行了观察，以期找到其生长方向与外表面之间的关系。

关键词： 硅纳米线 结构表征 透射电镜 热蒸发氧化硅粉末技术

作者: 沈振菊 张晓娜 张泽

作者单位: 浙江大学电镜中心,浙江杭州310027 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124 浙江大学电镜中心,浙江杭州310027;北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国电子显微学学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 6-6

在线出版日期: 2012-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）