ZnO纳米线单轴应变加载下能带调控规律的研究

摘要：

　　本文在扫描电镜中搭建了结合阴极荧光技术的原位拉伸设备，研究了氧化锌在单轴拉伸下的能带变化规律，为能带-应变工程在宽禁带半导体中的应用打下基础。

关键词： 氧化锌纳米线 拉伸试验 力学性能 扫描电镜

作者: 卫斌 郑坤 吉元 张跃飞 韩晓东 张泽

作者单位: 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124;浙江大学材料系,浙江杭州310027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国电子显微学学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 10-10

在线出版日期: 2012-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）