透射电镜中Si纳米线单轴拉伸应变下的电学性能研究

作者: 邵瑞文 郑坤 邓青松 韩晓东 张泽

作者单位: 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京100124;浙江大学材料系,浙江杭州310027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国电子显微学学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 16-16

在线出版日期: 2012-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）