高精度基于电子衍射的径向分布函数分析方法

摘要：

　　本文通过对GeZ Sbz Te，非晶薄膜进行电子衍射实验，分析发现，当电子衍射数据中包含有非弹性散射等影响因素时，其RDF结果将受到极大的影响，主要表现为峰强明显降低。

关键词： 非晶体结构 径向分布函数分析法 半导体薄膜 电子衍射

作者: 张斌 邓青松 刘显强 谷立新 韩晓东 张泽

作者单位: 北京工业大学固体微结构与性能研究实验室,北京100124 北京工业大学固体微结构与性能研究实验室,北京100124;浙江大学材料系,浙江杭州310027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国电子显微学学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 37-37

在线出版日期: 2012-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）