二维材料的制备及其在透射电镜下的成像表征

摘要：

　　本文采用超声离心分散法制得厚度比较薄的BN、MoS2、WS2纳米片，然后利用透射电子显微镜对二维纳米片进行了高分辨成像表征，以及电子衍射和内部微观缺陷，以及电子辐照对材料的影响。

关键词： 二维纳米片 结构表征 制备工艺 透射电子显微镜

作者: 洪金华

作者单位: 浙江大学材料科学与工程系浙江大学电镜中心,浙江杭州310027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国电子显微学学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 105-106

在线出版日期: 2012-09-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）