应用偏振能量色散X射线荧光光谱仪分析土壤及地质样品中的微量元素

摘要：

　　应用德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO XEPOS HE型偏振能量色散X射线荧光光谱仪,可对土壤及地质样品中的痕量元素进行快速分析.在总测量时间为600秒/样品的条件下,得到的重金属元素如Cd,Pb,Hg,Cr,Cu,Ni等的检出限达到0.Xμg/g数量级.仪器采用最大60KV的激发电压,崭新设计的大激活面积的高分辨的计数器,配合以专业Turbo-quant地质及环境重金属软件,达到了令人满意的分析效果.

作者: 曹海波

作者单位: 德国斯派克分析仪器公司,北京

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国地质与地球化学分析学术报告会暨第二届全国地质与地球化学分析青年论坛

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 22-22

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）