Pd合金氢致缺陷的正电子湮没研究

摘要：

　　本工作使用正电子湮没方法系统研究了Pd,Pd0.75Ag0.25和Pd0.92Y0.08(in weight)合金系统的氢致缺陷随氢含量的变化关系。合金样品充分退火后，在充氢装置内充氢。用正电子湮没寿命谱仪测量不同充氢浓度样品正电子湮没寿命谱，并分析了湮没寿命随氢浓度变化。实验结果说明，钯系合金氢脆确实与氢化物形成有很大关联，但是其中也产生了由于晶格变形导致的类似不锈钢中氢气泡的微观空型缺陷，可能会加速氢化物形成所造成的脆化过程。

关键词： 钯系合金 微观缺陷 氢含量 正电子湮没技术

作者: 左走翼 胡勇 郑永男 范平 袁大庆 朱升云

作者单位: 中国原子能科学研究院 北京 275(50),信箱,102413

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国正电子湮没谱学会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 56-57

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）