Fe掺杂引起光催化二氧化钛薄膜结构效应的正电子研究
采用固相反应法制备了BaTiO3多晶陶瓷样品,利用正电子湮灭技术、结合XRD结构分析和HP4294A阻抗分析仪的介电特性分析,对BaTiO3多晶陶瓷烧结过程进行了研究,给出了烧结温度、烧结时间对BaTiO3多晶陶瓷结晶度、结构缺陷和介电特性的影响。实验结果表明：随着烧结温度的提高和烧结时间的延长,BaTiO3陶瓷样品的微观缺陷发生了小尺寸缺陷的聚集,同时BaTiO3内部应力能的释放使得更大尺寸的缺陷(空位团、微空洞等)发生解体。正电子平均寿命与介电特性的匹配反应了微观缺陷引起空间电荷限制流分布对宏观介电特性的影响,介电性能的变化完全可以在空间电荷限制流的框架下理解。
电工陶瓷 烧结过程 微观缺陷 介电特性 正电子寿命谱
张丽娟 王力海 李强 刘建党 成斌 安然 赵明磊 叶邦角
中国科学技术大学近代物理系,合肥,230026 山东大学物理学院,晶体材料国家重点实验室,济南,250100
国内会议
成都
中文
75-81
2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）