固态存储系统ECC校验码的有效性分析

摘要：

　　本文对适用于NAND Flash的BCH编码所产生的ECC校验码进行有效性分析，为设计高效能的ECC校验码提供参考。本文对不同BCH编码方案生成的ECC校验码的平均纠错能力、存储利用率及随机差错概率进行了分析研究，分析结果表明在Flash页面预留空间限制内，应尽可能使用纠错能力更强的ECC校验码对大数据块进行保护，能取得更好的纠错效果和差错抵抗能力。

关键词： 固态存储硬盘 ECC校验码 差错抵抗能力 有效性分析

作者: Hu Yupeng 胡玉鹏 Xiao Nong 肖侬 Chen Zhiguang 陈志广 Du Yimo 杜溢墨

作者单位: School of Computer, National University of Defense Technology Changsha 410073 China;College of Infor 国防科学技术大学计算机学院,湖南长沙410073;湖南大学信息科学与工程学院,湖南 长沙412000 School of Computer, National University of Defense Technology Changsha 410073 China 国防科学技术大学计算机学院,湖南长沙410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第18届全国信息存储技术学术会议

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 151-154

在线出版日期: 2012-07-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）