直读光谱分析高铝硅钢中的超低碳

摘要：

　　本文对用直读光谱分析高铝硅钢中的超低碳进行了研究,通过实验得出只要控制好仪器条件,Si含量高不会对超低碳的分析造成影响,当Al含量在一定范围内时可通过干扰校正来消除AI对C的影响,但当Al含量高出一定范围后,通过干扰校正不能完全消除对C的影响。

关键词： 超低碳硅钢 碳含量 直读光谱法 干扰校正

作者: YU He 于河 WU Jing 吴静 WANG Fu-zhong 王富仲

作者单位: Chongqing iron&Steel Co. Ltd,Chongqing 400084,China 重钢股份有限公司品质部,重庆401220

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年全国炼钢-连铸生产技术会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 945-948

在线出版日期: 2012-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）