测试码间距与测试效率关系研究
随机测试长久以来一直被认为是测试工作的基本方法之一，其简单和直接的特点被人们广为利用。在随机测试中，测试者无需预产生测试码，只需要随机生成和选取即可。但是，相较于确定性测试，随机测试的检测效率较低。优化距离随机测试法，旨在改进传统随机测试思想并提高随机测试效率。该方法的基本思想基于如下假设：控制和修改测试码之间的距离可以改进故障覆盖率和提高测试效率。大量实验表明优化距离随机测试对提高软硬件随机测试效率是非常有效的。在理论证明和实验的基础上，本文对测试码间的距离和被测故障覆盖率之间的关系作了分析和研究，并提出故障差异的新概念，证明了优化测试码间距离与提高测试效率之间关系假设的真实性和有效性。
电路测试 海明距离 故障差异 随机测试效率
Gu Suyun 顾苏赟 Xu Shiyi 徐拾义 Wu Yue 吴悦
School of Computers, Shanghai University, Shanghai, 200072 上海大学计算机工程与科学学院 中国 上海200072
国内会议
杭州
中文
8-14
2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）