基于状态恢复的追踪信号选择方法

摘要：

　　硅后调试成为集成电路设计中关键环节之一，可调试性设计也得到了工业界广泛应用。本文介绍了一种在基于追踪的可调试性设计中利用状态恢复原理选择追踪信号的方法，并编程实现了状态恢复算法和基于概率的追踪信号选择算法。进一步地，本文在基于概率的追踪信号选择基础上，提出了基于模拟的追踪信号选择方法，通过模拟来得到更实际的概率初值以提高状态恢复率估计的准确性。实验结果表明，利用状态恢复原理选择追踪信号的方法可以有效的提高硅后调试的可观测性。

关键词： 集成电路设计 硅后调试 状态恢复算法 追踪信号选择

作者: Cheng Yun 程云 Li Huawei 李华伟 Li Xiaowei 李晓维

作者单位: State Key Laboratory of Computer Architecture, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of 计算机体系结构国家重点实验室,中国科学院计算技术研究所 北京100190;中国科学院研究生院 北京100049 State Key Laboratory of Computer Architecture, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of 计算机体系结构国家重点实验室,中国科学院计算技术研究所 北京100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 33-38

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）