针对NBTI老化的模拟电路测试优选

摘要：

　　模拟电路的失效定义为其中一个或多个性能指标不再满足性能要求。电路各个性能的老化存在相关性，因此通过检测电路的一部分性能，就可以判断电路是否已经失效。温度负偏压不稳定性(NBTI)是一种重要的电路老化机制，本文提出一种针对NBTI的电路老化仿真方法，及针对NBTI老化的测试优选方法。并将此方法应用于一个差分放大器及一个前馈均衡器(FFE)，实验结果表明通过检测FFE的14个性能，便能覆盖54个指标性能的80％的老化故障。

关键词： 模拟电路 测试方法 老化机制 仿真分析

作者: Lv Zhengliang 吕政良 Wang Hong 王红 Yang Shiyuan 杨士元

作者单位: Department of Automation, Tsinghua University, Beijing 100084 清华大学自动化系,北京100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 45-50

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）