Yield Explorer故障诊断软件的设计与开发

摘要：

　　随着电路制造工艺的不断加深，芯片故障诊断的难度越来越大。为了较快的对芯片进行诊断，就要借助故障诊断软件的帮助。国内在此领域研究与发展较薄弱，主要依赖于国外厂商的成熟软件。本文所设计的故障诊断软件参考了国外优秀软件的共同特点，同时融入了自己的特色，考虑了新工艺形势下的故障特点。软件支持多种输入文件格式，具有较好的可扩展性，同时便于作为诊断算法的评估平台。

关键词： 集成电路芯片 故障诊断 软件开发 功能分析

作者: Guo Hao 郭浩 Ye Jing 叶靖 Hu Yu 胡瑜 Li Xiaowei 李晓维

作者单位: State Key Laboratory of Computer Architecture, Beijing 100190 ;Institute of Computing Technology, Ch 计算机体系结构国家重点实验室(筹),北京100190;中国科学院计算技术研究所,北京100190;中国科学院研究生院,北京100049 State Key Laboratory of Computer Architecture, Beijing 100190 ;Institute of Computing Technology, Ch 计算机体系结构国家重点实验室(筹),北京100190;中国科学院计算技术研究所,北京100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 51-56

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）