TSV-SAFE:一种抑制三维集成电路硅通孔电迁移效应的可靠性设计框架

摘要：

　　三维集成电路是通过硅通孔将多个相同或不同工艺的晶片上下堆叠并进行垂直集成的新兴芯片集成技术。通过这种集成,芯片可获得更小的外形尺寸、更高的片上晶体管集成密度、单片上能集成更多的功能模块以及更高的互连性能等显著优点。然而,三维集成电路也带来了诸如TSV电迁移效应等新挑战。本文提出了一种抑制TSV电迁移效应的可靠性设计方法。首先,针对镀铜气泡、绑定非对齐和绑定界面尘埃沾染等TSV缺陷,分析了制造缺陷和电迁移效应之间的关系。通过观察发现,制造缺陷在加剧电迁移效应的同时还会影响TSV的阻值。然后,本文提出了TSV-SAFE(TSV Self-healing Architecture For Electro-migration)可靠性设计框架抑制电迁移效应。实验中,本文构建了一个由两层电路组成的3D芯片仿真平台。实验结果表明,采用本文所提出的技术,TSV的平均无故障时间(MTTF)平均增加了70倍,而由此带来的硬件面积开销不超过全芯片面积的1％。

关键词： 三维集成电路 电迁移效应 可靠性设计 自修复技术

作者: Cheng Yuanqing 成元庆 Zhang Lei 张磊 Han Yinhe 韩银和 Li Xiaowei 李晓维

作者单位: State Key Laboratory of Computer Architecture, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of 中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室(筹) 北京100190;中国科学院研究生院 北京 100190 State Key Laboratory of Computer Architecture, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of 中国科学院计算技术研究所计算机体系结构国家重点实验室(筹) 北京100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 177-183

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）