一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构

摘要：

　　本文提出一种基于FDR编码高效测试数据压缩的扫描树结构.首先,我们分析了扫描树技术和FDR编码技术结合的高效性.然后,我们提出了一种扫描树构造方法来降低确定位的数目,以进一步提高FDR编码的效率.实验结果表明,对于大的ISCA89电路,我们提出扫描树与FDR,ALT-FDR结合的方法比仅使用FDR,ALT-FDR平均分别多降低了16.65％,14.73％.我们提出的方法也优于当前的基于编码的方法.

关键词： 超大规模集成电路 电路测试 可测试性设计 扫描树技术

作者: Lu Dan 鲁丹 You Zhiqiang 尤志强 Kuang Jishun 邝继顺

作者单位: College of Information Science&Engineering, Hunan University, China 湖南大学信息科学与工程学院,湖南长沙410082 College of Information Science&Engineering, Hunan University, China;Electrical and Computer Engineer 湖南大学信息科学与工程学院,湖南长沙410082;美国加州大学圣巴巴拉分校电子与计算机工程系,95106-9560

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 214-217

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）