基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案

摘要：

　　随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高，其测试变得越来越复杂，测试成本也越来越高。按照目前的发展趋势，测试成本将有可能超过芯片自身的设计和制造成本，如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于片外信号源方法提出了一种低成本SoC测试方案，并在自动测试系统T6575上实现。本文的研究方法对同类芯片低成本量产测试具有现实参考意义。

关键词： 集成电路 片上系统 自动测试系统 成本核算

作者: Liu Yanhua 刘炎华 Zhong Weihong 钟伟宏 Sun Ling 孙玲

作者单位: Jiangsu Key Lab of ASIC Design, Nantong University, Nantong 226019 南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室 江苏 南通226019 Nantong Fujitsu Microelectronics CO.,LTD Nantong 226019 南通富士通微电子股份有限公司 江苏 南通226019

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 218-221

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）