基于有限状态机控制的低功耗广播式测试压缩结构

摘要：

　　测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描链在扫描过程中接收持续的常数0,另一半的内部扫描链接收来自扫描通道的测试激励,实现了广播式压缩环境下对内部扫描链选通的自动动态控制。为了提高故障覆盖率,在低功耗广播扫描模式之后增加了串行扫描模式。实验结果表明扫描移位功耗和捕获功耗可降低50％-60％,故障覆盖率可达到无损,不需要对电路结构做大的修改,更适用于大规模的工业电路。

关键词： 电路测试 低功耗测试 扫描模式 有限状态机

作者: Feng Xiangchen 冯祥晨 Feng Jianhua 冯建华 Cui Xiaole 崔小乐

作者单位: Department of Microelectronics, Peking University, Beijing, 100871;Key Lab of Integrated Micro Syste 北京大学微电子学系 北京100871; 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 深圳518055 Key Lab of Integrated Micro System Science Engineering and Application, Shenzhen Graduate School of 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 深圳518055

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 222-226

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）