多核处理器中非确定性错误调试技术最新进展

摘要：

　　随着集成电路设计复杂度不断增加，硅前验证已经难以保证没有错误进入硅后芯片之中。而在硅后阶段调试多核处理器芯片，非确定性错误是面临的重大挑战之一。本文针对多核处理器中非确定性错误的调试技术进行综述和深入分析。首先，介绍了多核处理器调试硅后调试技术面临的困难，特别是非确定性错误带来的新挑战；然后，概括介绍了国内外在多核处理器硅后调试特别是针对非确定性错误调试的最新进展，分析了已有方法存在的问题；最后，对多核处理器中非确定性错误的研究热点和研究趋势进行了分析、展望和总结。

关键词： 集成电路 多核处理器 硅后调试技术 非确定性错误

作者: Jianliang Gao 高建良 Jianxin Wang 王建新 Yinhe Han 韩银和 Xiaowei Li 李晓维

作者单位: School of Information Science and Engineering, Central South University, Changsha 410083 中南大学信息科学与工程学院 长沙 410083 Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100190 中国科学院计算技术研究所 北京100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届中国测试学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 258-262

在线出版日期: 2012-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）