微连接电致应力的有限元分析方法研究

摘要：

　　本文以电迁移的控制方程为依据通过对该方程的离散化和ABAQUS二次开发,实现了电致应力应变的有限元计算.计算结果表明：电致Mises应力为15.4Mpa,剥离应力与切应力可达50MPa.证明电致应力是微连接可靠性评价不可忽略的因素.

关键词： 微连接 电致应力 有限元计算 可靠性评价

作者: 李伟佳 刘萍 苏飞

作者单位: 北京航空航天大学固体力学研究所,100191

会议类型: 国内会议

会议名称: 北京力学会第十九届学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 196-197

在线出版日期: 2013-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）