纳米颗粒粒径测量中的角度校准噪声分析

摘要：

　　基于多角度动态光散射法，采用齿轮转动装置选取角度并进行精确的颗粒粒度测量，进而用正则化方法分析角度校准噪声在纳米颗粒粒径测量中的影响。

关键词： 纳米颗粒 粒径测量 多角度动态光散射法 角度校准噪声

作者: 闫晓慧 杨庆生

作者单位: 北京工业大学,100124

会议类型: 国内会议

会议名称: 北京力学会第十九届学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 252-253

在线出版日期: 2013-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）