关键词： SiGe/Si量子阱材料 导纳谱测试
作者: 高琦 阱(日方)
作者单位: 复旦大学物理系(上海)
会议类型: 国内会议
会议名称: 第十二届全国半导体物理学术会议
会议地点: 上海
会议语种:中文
页码: 27-27
在线出版日期: 1999-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）