G.657光纤模场直径测量研究

摘要：

　　模场直径是影响光纤接续损耗的关键因素.普通G.652光纤模场直径的测量可以按照国标要求饶一个30mm的圆圈来消除高次模的影响，从而准确测出模场直径.G.657光纤因对弯曲不敏感，简单绕圈的方法不能完全消除高次模，采用传统的方法测试模场直径误差大.为了准确测量G.657光纤的模场直径，根据国标滤除高次模的要求，提出了三种测试方法.并结合实际测试进行了验证.最后结合实际操作的可行性，提出了日常测试的方法建议.

关键词： 光纤 模场直径 测量标准

作者: Li chunsheng 李春生 Lin Zhong 林中 Wang Zhenyue 王振岳 Liu cheng 刘骋

作者单位: Key Laboratory of Infomation Photonics and Optical Communications, Beijing University of Posts and T 北京邮电大学信息光子学与光通信国家重点实验室 北京 100876;北邮华飞研究所 北京 100876 State Key Laboratory of Optical Communication Technologies and Networks,Wuhan 430074, China ;Fiber H 光纤通信技术和网络国家重点实验室 湖北武汉 430074;烽火通信科技股份有限公司 湖北武汉430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国通信学会2012年光缆电缆学术年会

会议地点: 浙江富阳

会议语种:中文

页码: 45-51

在线出版日期: 2012-09-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）