高能质子和铁离子在照射细胞和旁效应细胞中产生的53BP1foci比较

摘要：

　　本研究采用插入式小皿共培养体系来研究电离辐射在AG01522中诱导的旁效应。辐射在Brookhaven国家实验室(BNL)的NASA空间辐射实验室进行。辐射类型包括高能质子和铁离子。照射细胞和旁效应细胞在适当的时间被固定，作53BP1的免疫荧光检测。的结果提示未照射细胞在和照射细胞共培养后产生了DNA损伤，而这种损伤不同于受直接照射的细胞中的损伤。前者看似与未处理细胞中的自发损伤相似，自发损伤可能源于活性氧。之前我们的结果已证明活性氧淬灭剂可以减少旁效应细胞中53BPlfoci的产生。因此旁效应细胞中的DNA损伤可能与活性氧有关。

关键词： 放射损伤 免疫系统 高能质子 铁离子 荧光检测

作者: 杨红英 KathrynD.Held HeikoEnderling LynnHlatky

作者单位: 苏州大学医学部放射医学与防护学院,苏州 215123;Department of Radiation Oncology,Cox 302,Massachusetts General Hospital/H Department of Radiation Oncology,Cox 302,Massachusetts General Hospital/Harvard Medical School,Bosto Caritas St.Elizabeth”s Medical Center,Tufts University School of Medicine,Boston,MA 02135-2997

会议类型: 国内会议

会议名称: 中华医学会第九次全国放射医学与防护学术交流会

会议地点: 珠海

会议语种:中文

页码: 104-105

在线出版日期: 2012-12-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）