一种低开销的抗辐射加固D触发器设计

摘要：

　　随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针对单粒子翻转进行防护.Spice模拟结果显示与其它加固触发器相比,LHFF在电路面积和功耗延迟积上有很大优势.

关键词： D触发器 抗辐射加固 单粒子翻转 异构双模冗余设计

作者: Shi Dongxia 史冬霞 Huang Zhengfeng 黄正峰 Yan Luming 严鲁明 Liang Huaguo 梁华国

作者单位: School of Electronic Science&Applied Physics. HeFei University of Technology, HeFei 230009, China 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥230009 School of Computer and Information. HeFei University of Technology, HeFei 230009, China 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 2012年中国仪器仪表学术、产业大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 1-4

在线出版日期: 2012-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）